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介电常数介质损耗测试仪有哪些结构特征?

点击次数:983  更新时间:2021-07-05

 结构特征与工作原理

1、系统组成

  介电常数介质损耗测试仪由S916测试装置(夹具)、ZJD-C型高频Q表、数据采集和tanδ自动测量控件(装入ZJD-C)、及LKI-1型电感器组成,它依据国标GB/T 1409-2006、美标ASTM D150以及国际电工委员会IEC60250的规定设计制作。系统提供了绝缘材料的高频介质损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε)自动测量的最jia解决方案。

1. 基于串联谐振原理的《ZJD-C高频Q表》是测试系统的二次仪表,其数码化主调电容器的创新设计代表了行业的最高成就,随之带来了频率、电容双扫描(ZJD-C)的全新搜索功能。该表具有先进的人机界面,采用LCD液晶屏显示各测量因子:Q值、电感L、主调电容器C、测试频率F、谐振趋势指针等。高频信源采用直接数字合成,测试频率100KHz-160MH,频率精度高达1×10-6。国标GB/T 1409-2006规定了用Q表法来测定电工材料高频介质损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε),把被测材料作为平板电容的介质,与辅助电感等构成串联谐振因子引入Q表的测试回路,以获取最高的测试灵敏度。因而Q表法的测试结果更真实地反映了介质在高频工作状态下的特征。


 

2、AS916介质损耗装置》(测试夹具)是测试系统的核心检测部件,它由一个LCD数字显示的微测量装置和一对经精密加工的、间距可调的平板电容器极片组成。平板电容器极片用于夹持被测材料样品,微测量装置则显示被测材料样品的厚度。通过被测材料样品放进平板电容器和不放进样品时的Q值变化的量化,测得绝缘材料的损耗角正切值。从平板电容器平板间距的读值变化则可换算得到绝缘材料介电常数。AS916介质损耗测试装置是本公司新研制的更新换代产品,精密的加工设计、精确的LCD数字读出、一键式清零功能,克服了机械刻度读数误差和圆筒形电

容装置不可避免的测量误差。

3、一个高品质因数(Q)的电感器是测量系统的辅助工具,关乎测试的灵敏度和精度,在系统中它与平板电容(AS916)构成了基于串联谐振的测试回路。本系统推荐的电感器为LKI-1电感组,共由9个高性能电感器组成,以适配不同的检测频率。

4、数据采集和tanδ自动测量控件(装入AS2853A),实现了数据采集、数据分析和计算的微处理化,tanδ 测量结果的获得无须繁琐的人工处理,因而提高了数据的精确度和测量的同一性,是人工读值和人工计算的。

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